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Willkommen bei JEOL

JEOL ist einer der führenden Hersteller von elektronenoptischen Geräten, Analytischen Instrumenten und Geräten zur Probenpräparation. Wir sind Ihr lokaler Partner für Beratung, Verkauf, Schulung und technischen Service.

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JEOL - Solutions for Innovation

JEOL (Germany) GmbH, Ihr Partner für Verkauf, Schulung, Wartung und Reparatur von JEOL Systemen.

60 Years NMR + 50 Years SEM
 

Aktuelles

Weitere aktuelle Informationen erhalten Sie in der Rubrik Aktuelles.

  • 19.06.2017  JEOL JEM-Z200FSC CRYO ARM™ 200 Feld-Emissions Mikroskop

    JEOL JEM-Z200FSC CRYO ARM™ 200 Feld-Emissions Mikroskop

    CRYO ARM™ 200 - ein ultrahochauflösendes Kryo-Elektronenmikroskop.

  • 19.06.2017  JEOL IB-19530 Cross Section Polisher

    JEOL IB-19530 Cross Section Polisher

    JEOL IB-19530 Cross Section Polisher - Präparationswerkzeug zur Herstellung von hochpräzisen Querschliffen.

  • 26.04.2017  JEOL JXA-8530FPLUS Feldemissions Elektronenstrahl-Mikrosonde

    JEOL JXA-8530FPLUS Feldemissions Elektronenstrahl-Mikrosonde

    Die JEOL Mikrosonde JXA-8530FPlus ist bereits die dritte Generation der erfolgreichen Elektronenstrahl-Mikrosonden-Serie mit patentierter In-Lens- Feldemissionsquelle.

  • 26.04.2017  JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

    JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

    Das JSM-IT500 ist die neueste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung bis hin zur Berichtsgenerierung.

  • 26.04.2017  JEOL JMS-MT3010HRGA

    JEOL JMS-MT3010HRGA

    JEOL JMS-MT3010HRGA ist ein „Time-of-Flight“ Massenspektrometer, welches durch die revolutionäre „Multi-turn“-Technologie kombiniert mit perfekter Fokussierung höchste Auflösung in einem äußerst kompakten Design erreicht.

  • 26.04.2017  JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    Das neue Mehrstrahlsystem JEOL JIB-4700F ist eine ideale Plattform für sämtliche Fragestellungen von der morphologischen, chemischen bis hin zur kristallographischen Analyse verschiedenster Proben.

Kontakt, Termine und Wissenswertes

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JEOL (Germany) GmbH
Gute Änger 30
85356 Freising

Tel.: +49 8161 9845-0
Fax: +49 8161 9845-100
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Vorführ- und Gebrauchtgeräte

 
JEM-1010
Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.
JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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    02.07. - 06.07.2017 Polen
    Hotel Marriott, Warschau

  • 1st EUFN Workshop

    04.07. - 05.07.2017 Österreich
    Universität Graz, Graz

  • MC 2017

    21.08. - 25.08.2017 Schweiz
    SwissTech Convention Center, Lausanne

  • Metallographie-Tagung

    13.09. - 15.09.2017 Deutschland
    Hochschule Aalen, Aalen

 
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